Microscope électronique en transmission analytique FEI Tecnaï F20-ST

    LE MICROSCOPE

    Le Tecnai F20-ST est un microscope électronique à transmission analytique opérant à des tensions allant jusqu’à 200 kV. Il est doté d’une source d’électrons à émission de champ (Schottky) produisant une sonde électronique très cohérente, très brillante et quas-monochromatique. Ces caractéristiques lui confèrent de très bonnes performances en imagerie (résolution ponctuelle : 0.24 nm), en analyse chimique (courant > 0.5 nA pour une sonde de 1 nm) et en spectroscopie (résolution énergétique < 0.7 eV). Ainsi, il est possible de produire des images de l’arrangement atomique de la plupart des matériaux cristallins, d’effectuer des analyses chimiques avec une résolution spatiale sub-nanométrique et d’explorer les propriétés électroniques et optiques des matériaux.

    En termes d’accessoires, le Tecnai F20-ST est doté d’un système de balayage du faisceau permettant de travailler en mode balayage en transmission (STEM) en combinaison avec trois détecteurs (BF, DF et HAADF). Il est également équipé d’un détecteur EDX-SDD pour la micronalyse X et d’un ensemble spectromètre magnétique plus filtre en énergie (GIF) pour les analyses EELS et EFTEM. Il est aussi possible de réaliser des expériences de tomographie électronique grâce à un porte-objet spécial (± 80°).

    SPÉCIFICITÉS

    2002

    200 kV

    - Emission de champ Schottky
    - Courant de sonde (> 0.5 nA / 1 nm)
    - Dispersion d’énergie (< 0.7 eV)

    - Lentille objectif S-TWIN
    - Cs: 1.2 mm , Cc : 1.2 mm
    - Résolution ponctuelle: 0.24 nm
    - Limite d’information: 0.14 nm
    - Grandissement TEM: 25 x - 1 Mx
    - Camera Gatan Multiscan (1k x 1k)
    - Camera Gatan Orius SC 1000 (11 M pi)

    - Détecteurs BF, DF et HAADF
    - Grandissement: 150x – 230 Mx
    - Résolution (HAADF) : 0.16 nm

    - Détecteur Bruker XFlash 6/60T
    - SDD, 60 mm2, sans fenêtre

    - GIF 2001
    - Digiscan II
    - EFTEM-SI et STEM-SI

    - Porte-objet simple-tilt (± 80°)
    - Modes TEM, STEM-HAADF et EFTEM

    - Simple tilt (± 45°)
    - Double-tilt (a= ± 40°, b= ± 30°)
    - Tomographie (± 80°)

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    Le savoir faire 

    Le Tecnai F20-ST est un appareil polyvalent, qui répond parfaitement aux demandes courantes des métallurgistes et des physiciens des matériaux, mais dont les caractéristiques principales sont plutôt tournées vers l'analyse chimique élémentaire à l'échelle nanométrique. Il a été choisi pour répondre aux demandes actuelles du Centre des Matériaux tout en permettant d'aborder les matériaux de demain. En liaison avec les chercheurs du laboratoire et nos partenaires extérieurs, ce microscope joue et jouera un rôle déterminant dans les axes de recherche suivants :

    • Microstructure des alliages métalliques
    • Développement de nouveaux alliages
    • Structure et propriétés des interfaces
    • Corrosion et protection des matériaux
    • Assemblages et multi-matériaux
    • Nanomatériaux
    • Biomatériaux
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    Image haute résolution d’un précipité S-Al2CuMg dans l’alliage Al-2024

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    Image STEM-HAADF de précipités dans l’alliage 16MnD5 et spectre EDX acquis sur un carbure Fe3C

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    Cartographie EFTEM d’une interface
    NiCrAl-LST (Pile à combustible SOFC)

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    Reconstruction 3D par tomographie électronique STEM-HAADF de la précipitation inter et intra-granulaire dans l’alliage Al-2024