MEB FEI Nova NanoSEM 450

Système de microanalyse X EDS

Système de microanalyse X à sélection d'énergie EDS SDD Bruker XFlash 5030 127 eV avec suite logicielle Quantax 800 dont les caractéristiques sont les suivantes :

• Résolution en énergie de 127 eV @ Mn Kα (54 eV @ C Kα, 64 eV @ F Kα), garantie jusqu’à 50 000 cps.
• Détection des éléments possible à partir de l’élément bore.
• Possibilités d'effectuer de nombreuses tâches :
  • Acquisition EDS avec analyse qualitative, semi-quantitative et quantitative (avec ou sans témoins) des spectres obtenus ;
  • Acquisition d’images MEB suivi d’acquisition / analyse multipoints EDS ;
  • Acquisition et analyse de profils de lignes qualitatifs et quantitatifs ;
  • Acquisition et analyse de cartographies X spectrales qualitatives et quantitatives (en mono ou multi-champs) ;
  • Acquisition et analyse morpho-chimique de particules ou d’inclusions (en mono ou multi-champs).

Système EBSD

Système d'acquisition rapide EBSD de cartographies d'orientations cristallographiques EDAX OIM Hikari.

• Suite OIM v6.1 permettant l'acquisition et le traitement complet des données.
• Caméra rapide avec un capteur CCD de 640x480 pixels de résolution permettant une vitesse d'acquisition/indexation maximale de 320 img/sec (binning 10x10).
• Acquisition mono- ou multi-champs
• Possibilité de travailler indiféremment sur des échantillons massifs ou des lâmes minces (mode réflexion ou transmission)

Responsable(s)