soutenance de thèse de Thomas GEOFFROY

Le 10 avril 2017

du Centre des Matériaux de MINES ParisTech

Thomas GEOFFROY soutiendra sa thèse intitulée

" Assemblages électroniques par frittage d’argent pour équipements aéronautiques fonctionnant en environnements sévères"
 
le 10 avril 2017 à  14h00,
lieu : MINES ParisTech, 60 bld Saint-Michel, Paris 6ème
 
Résumé : La majeure partie des équipements électroniques qui nous entourent fonctionne dans des environnements plutôt cléments où les variations thermiques sont d'amplitudes faibles à modérées. En aéronautique, l'utilisation d'équipements fonctionnant dans des milieux beaucoup plus hostiles que les environnements traditionnellement rencontrés en électronique pourrait permettre d'améliorer considérablement les performances des aéronefs, notamment en terme de poids, de consommation de carburant et de coût de maintenance. Toutefois, l'utilisation d'assemblages électroniques « classiques » dans des environnements où les variations thermiques sont fortes pose des problèmes techniques majeurs : les hautes températures peuvent faire fondre les alliages de brasure courants et la fatigue thermomécanique peut très rapidement provoquer la défaillance des assemblages. Pour pallier ces problèmes, les composants électroniques peuvent être reportés par frittage d'argent dans les circuits. En effet, cette technologie d'assemblage permet de remplacer les brasures usuelles par un matériau ayant un point de fusion nettement plus élevé : l'argent pur (Tfus=962°C). Cependant, le frittage a tendance à produire des matériaux poreux et la porosité peut avoir un effet néfaste sur le vieillissement des joints d'attache des composants électroniques. Par conséquent, dans cette thèse, les liens existant entre profil thermique de frittage et porosité ainsi que ceux existant entre porosité et résistance aux cycles thermiques (-65°C/+200°C) ont été étudiés. Par ailleurs, la question des interactions métallurgiques pouvant se produire à hautes températures entre l'argent fritté et certaines métallisations usuelles de composants et de substrats a également été abordée.

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